試(shi)驗箱簡介及箱體結構(gou)：
簡介
真(zhen)菌在(zai)土壤(rang)中(zhong)及各種材料(liao)上(shang)生長(chang)，產(chan)生孢(bao)子(zi)而(er)傳(chuan)播。孢(bao)子(zi)脫離(li)母(mu)體(ti)發(fa)芽(ya)而(er)進一步生長(chang)，又因(yin)此(ci)孢(bao)子(zi)極小，容(rong)易隨流動的空氣(qi)傳(chuan)播，一旦生長(chang)環境(jing)條件適宜，即形成為污染(ran)，對(dui)設(she)備(bei)的性能產(chan)生影響。
溫(wen)度和濕(shi)度是霉菌生(sheng)(sheng)長的(de)基本條件，而水分是孢(bao)子(zi)(zi)發芽的(de)必要條件，物體表(biao)面(mian)上存在(zai)有灰塵或其(qi)他親水性物質，可(ke)以從(cong)大氣中吸收足(zu)夠的(de)水分和營養，以供孢(bao)子(zi)(zi)發芽生(sheng)(sheng)長。大量試(shi)驗證明，造(zao)成設備(bei)損壞的(de)大多數霉菌，發芽zui適宜溫(wen)度在(zai)20℃—30℃之間，相對濕(shi)度低于65%時，孢(bao)子(zi)(zi)就不會發芽生(sheng)(sheng)長；大于此值時，濕(shi)度越大，生(sheng)(sheng)長越快。
長(chang)霉對產品的影(ying)響主(zhu)要(yao)有以下(xia)三個方面：
原(yuan)發(fa)性影響：霉菌(jun)即(ji)使(shi)對材(cai)料(liao)只發(fa)生輕(qing)微的損害(hai)，絕緣材(cai)料(liao)表面(mian)由于濕潤的菌(jun)絲層形成導電通路而大(da)幅度(du)降低絕緣電阻，嚴(yan)重地會引起電路頻率和(he)阻抗特(te)性發(fa)生重大(da)的變化。材(cai)料(liao)一旦受到(dao)霉菌(jun)侵(qin)蝕會導致機械強度(du)下降和(he)其(qi)他(ta)物理性能的變化。
繼(ji)發(fa)性影(ying)響(xiang)：霉(mei)菌在材料(liao)上(shang)生長，能(neng)夠產(chan)(chan)生有機(ji)酸和(he)其他(ta)電解質(zhi)等代謝產(chan)(chan)物，而對材料(liao)產(chan)(chan)生繼(ji)發(fa)性影(ying)響(xiang)。這種侵(qin)蝕會導致材料(liao)電解和(he)老(lao)化(hua)。又(you)因菌絲體(ti)具有吸(xi)水作用(yong)，形成了飽和(he)的海(hai)綿層，即使外界(jie)濕度很低(di)，菌絲體(ti)仍能(neng)在試驗(yan)體(ti)內維持高濕狀態，導致元件受(shou)潮損壞(huai)。長霉(mei)即有損新(xin)產(chan)(chan)品(pin)外觀(guan)，又(you)伴有難聞的霉(mei)味。
關聯性影(ying)(ying)響(xiang)：由于現(xian)代化設備(bei)的(de)微(wei)(wei)型(xing)(xing)結構(gou)和相(xiang)互聯結，設備(bei)的(de)一(yi)(yi)處長(chang)霉可能(neng)(neng)會對(dui)(dui)不允許長(chang)霉的(de)其他元件(jian)和微(wei)(wei)型(xing)(xing)件(jian)產(chan)生影(ying)(ying)響(xiang)。因(yin)此，當考慮對(dui)(dui)單一(yi)(yi)分組(zu)件(jian)或元件(jian)的(de)直接(jie)或間接(jie)影(ying)(ying)響(xiang)時，必須對(dui)(dui)整機性能(neng)(neng)可能(neng)(neng)產(chan)生的(de)影(ying)(ying)響(xiang)給予評定。
長霉(mei)(mei)試(shi)(shi)驗(yan)通常限于檢驗(yan)是否用了適當的(de)(de)元件和材(cai)料。通過材(cai)料元件、零部件或小(xiao)的(de)(de)組合(he)件等試(shi)(shi)驗(yan)，很容易正確地獲得所(suo)需(xu)要的(de)(de)許多(duo)重要數據；長霉(mei)(mei)試(shi)(shi)驗(yan)是對試(shi)(shi)驗(yan)新(xin)產(chan)品(pin)準備運行非常有(you)利霉(mei)(mei)菌生長條件下(xia)所(suo)作(zuo)的(de)(de)zui后檢測(ce)。通過試(shi)(shi)驗(yan)可以(yi)檢測(ce)出具有(you)良好設計(ji)性能(neng)的(de)(de)產(chan)品(pin)發(fa)生任何故障(zhang)的(de)(de)性質。
綜上所(suo)述，長(chang)霉（霉菌）試驗(yan)是鑒定樣品及(ji)其(qi)材料在有利(li)于霉菌生長(chang)的(de)氣候條件下的(de)長(chang)霉程度和由(you)于長(chang)霉引起的(de)表面(mian)變化和性(xing)能(neng)影響(xiang)。
交變(bian)霉菌試(shi)驗箱是讓試(shi)驗樣(yang)品在一個理(li)想的(de)，適(shi)宜霉菌孢子快(kuai)速生長的(de)氣候(hou)環境中(zhong)，人為考核試(shi)驗樣(yang)品及(ji)其結構(gou)材料的(de)抗霉性能，及(ji)長霉對(dui)試(shi)驗樣(yang)品電氣、機械性能影響的(de)試(shi)驗設備。
本公司技術(shu)部按照《GB10588—89；長(chang)霉(mei)(mei)(mei)試(shi)(shi)驗箱(xiang)(xiang)(xiang)的(de)(de)技術(shu)條(tiao)件(jian)》及(ji)(ji)其它相關(guan)環(huan)試(shi)(shi)標準中的(de)(de)要(yao)(yao)求（例如(ru)：試(shi)(shi)驗方法中規定的(de)(de)有關(guan)試(shi)(shi)驗箱(xiang)(xiang)(xiang)*的(de)(de)技術(shu)條(tiao)件(jian)等），結(jie)合自身(shen)的(de)(de)技術(shu)特點、設計制造的(de)(de)夾套(tao)式“交(jiao)變霉(mei)(mei)(mei)菌(jun)(jun)試(shi)(shi)驗箱(xiang)(xiang)(xiang)”符合上述標準的(de)(de)規定，達到國(guo)標及(ji)(ji)國(guo)軍(jun)標的(de)(de)要(yao)(yao)求，能夠按照《電工電子產品方法：GB2423.16—2008試(shi)(shi)驗J—長(chang)霉(mei)(mei)(mei)試(shi)(shi)驗方法》和《GJB150.10—2009，軍(jun)用設備霉(mei)(mei)(mei)菌(jun)(jun)試(shi)(shi)驗》、《GJB4.10-83艦船電子設備環(huan)境試(shi)(shi)驗霉(mei)(mei)(mei)菌(jun)(jun)試(shi)(shi)驗》進行長(chang)霉(mei)(mei)(mei)試(shi)(shi)驗。
結構(gou)
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